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FBM237SOC芯片测试技术的发展趋势及挑战一、FBM237前言随着半导体科技的进步，我们巳经可以把越来越多的电路设计在同一芯片中，这里面可能包含有中央处理器...
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FBM233-P0926GX射频IC版图设计FBM233-P0926GX在射频IC电路设计中所考虑的重点是电特性，而版图设计是器件和连线的尺寸及位置，在电路设计...
阅读量：8532024
FBM233探针测试卡FBM233探针测试卡（即探针卡）是将探针卡上的测试探针与芯片上的焊区（pad）或凸点（bump）直接接触（图1），引出芯片信号，再配合周...
阅读量：6042024
FBM230IC测试座自动组装装置及其方法一、FBM230IC测试座自动组装装置技术背景目前我国集成电路产业链的发展建设已日臻完善，基本形成了IC芯片设计、制造...
阅读量：9282024
FBM219-P0916RH芯片测试的目的分类FBM219-P0916RH根据芯片测试的目的，可以分为以下5种类型。1）FBM219-P0916RH电学测试电学...
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